測(cè)試臺(tái)是一種標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試插座，用于測(cè)試在線(xiàn)元件的電氣性能和電氣連接，檢查制造缺陷和不良元件。

功能：

（1） 進(jìn)貨檢驗(yàn)

在使用貼片前，應(yīng)進(jìn)行質(zhì)量檢查，找出不良品，以提高貼片的良品率。芯片的質(zhì)量不能僅僅用肉眼觀察。必須通電檢測(cè)。常用的檢測(cè)集成電路的電流、電壓、電感、電阻和電容的方法不能完全判斷集成電路的質(zhì)量。只有通過(guò)試驗(yàn)臺(tái)的應(yīng)用功能運(yùn)行程序才能準(zhǔn)確判斷。

（2） 修理檢查

該測(cè)試臺(tái)可以節(jié)省維修判斷和分析的時(shí)間，消除缺陷產(chǎn)生的原因，減少主板回流次數(shù)，降低維修板報(bào)廢的風(fēng)險(xiǎn)。此外，IC在拆卸過(guò)程中可能會(huì)損壞。該測(cè)試臺(tái)能快速分離出有缺陷的集成電路，并對(duì)測(cè)試合格的集成電路進(jìn)行再利用，從而降低維護(hù)和材料收集的成本，特別是對(duì)于單價(jià)較高的集成電路。

（3） 刻錄/程序

IC測(cè)試臺(tái)安裝在PCB上后，形成IC燒臺(tái)/IC編程臺(tái)/IC適配器。通過(guò)連接合適的燒錄設(shè)備，可以對(duì)IC或模塊進(jìn)行編程和燒錄。

（4） 老化試驗(yàn)

部件失效主要發(fā)生在生命周期的開(kāi)始和最后10個(gè)階段。老化是通過(guò)對(duì)元器件的工作環(huán)境和電氣性能進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試，從而使元器件在壽命的前10%內(nèi)加速工作，從而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，從而及早發(fā)現(xiàn)故障。

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